格式:pdf
大?。?span class="single-tag-height">161KB
頁(yè)數(shù):
通過(guò)對(duì)電容套管介質(zhì)損耗試驗(yàn),我們能夠有效地發(fā)現(xiàn)因電容套管制造工藝不良或末屏斷裂而引起的內(nèi)部局部放電缺陷,及早地避免因絕緣缺陷而引發(fā)的套管爆炸事故,介質(zhì)損耗試驗(yàn)中通常會(huì)遇到電容量Cx及介質(zhì)損值tgδ的異常變化,文章針對(duì)主絕緣介損值變化異常,而電容量變化不顯著的問(wèn)題進(jìn)行分析及處理,有效的判斷出是末屏小套管銹蝕引起的介質(zhì)損耗測(cè)試數(shù)據(jù)異常,建議對(duì)電容套管的末屏絕緣狀況引起關(guān)注。
瓷介電容知識(shí)來(lái)自于造價(jià)通云知平臺(tái)上百萬(wàn)用戶(hù)的經(jīng)驗(yàn)與心得交流。 注冊(cè)登錄 造價(jià)通即可以了解到相關(guān)瓷介電容最新的精華知識(shí)、熱門(mén)知識(shí)、相關(guān)問(wèn)答、行業(yè)資訊及精品資料下載。同時(shí),造價(jià)通還為您提供材價(jià)查詢(xún)、測(cè)算、詢(xún)價(jià)、云造價(jià)等建設(shè)行業(yè)領(lǐng)域優(yōu)質(zhì)服務(wù)。手機(jī)版訪問(wèn):瓷介電容