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按照標(biāo)準(zhǔn)要求: LED燈具壽命測(cè)試過(guò)程 :可以分成加速壽命測(cè)試和控制測(cè)試(即常溫下常亮測(cè)試) 加速壽命測(cè)試的一個(gè)周期分為四個(gè)步驟: 1、在 85℃和 85%RH環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試,燈具開(kāi)一小時(shí),關(guān)一小時(shí)。共計(jì)六小時(shí) 2、冷熱沖擊試驗(yàn): 從 -50℃到 120℃進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),在每個(gè)極值溫度下保持 30 分鐘進(jìn)行測(cè)試。燈具點(diǎn) 亮?xí)r間周期與溫度變化周期是不一致的。具體的可參見(jiàn)下圖。冷熱溫度切換時(shí)間不得超過(guò) 5 分鐘。 3、在 85℃和 85%RH環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試,燈具開(kāi)一小時(shí),關(guān)一小時(shí)。共計(jì)六小時(shí) 4、在 120℃高溫下工作 15 個(gè)小時(shí),燈具開(kāi)一個(gè)小時(shí),關(guān)一個(gè)小時(shí)。 一個(gè)加速壽命測(cè)試循環(huán)周期為 42 個(gè)小時(shí),當(dāng)一個(gè)加速周期完畢后, 我們進(jìn)行燈具的光度 和色的測(cè)試, 光度用于評(píng)價(jià)是否已經(jīng)失效, 而色度是用于監(jiān)控輔助, 并不真正進(jìn)入的失效評(píng) 判依據(jù)之中。標(biāo)準(zhǔn)中推薦采用一個(gè) 45公分直徑的小積分球配合
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為了提高存儲(chǔ)器的邊界掃描測(cè)試軟件的通用性,提出一種基于TCL語(yǔ)言及邊界掃描技術(shù)的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方案。結(jié)合存儲(chǔ)器測(cè)試?yán)碚摷斑吔鐠呙柽壿嫶販y(cè)試技術(shù),研究基于TCL腳本語(yǔ)言的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方法,用以在進(jìn)行存儲(chǔ)器簇測(cè)試時(shí)描述存儲(chǔ)器自身的讀寫特性及與其外部邊界掃描測(cè)試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲(chǔ)器功能測(cè)試的例子。通過(guò)測(cè)試驗(yàn)證,使用TCL腳本語(yǔ)言與高級(jí)語(yǔ)言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測(cè)試軟件的工作效率。
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