格式:pdf
大?。?span class="single-tag-height">930KB
頁數(shù): 5頁
以氖氣噴氣Z箍縮的實驗結果為例,詳細討論了橢圓晶體譜儀測量數(shù)據(jù)的處理方法,包括使用標定結果將膠片黑密度轉換為X光強度,根據(jù)已知譜線的能量和掃描點序號對測量能譜的能點進行定標,以及使用Henke給出的考慮譜儀非均勻色散效應、晶體積分反射率和X光濾片透過率后的公式對測量能譜的強度進行修正,給出了最終的解譜結果。并使用Lorentz線型函數(shù)擬合譜線輪廓,求出了Hα,Heα和Heβ等K殼層譜線的相對強度,對處理后能譜強度的誤差進行了簡單分析。