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LED 加速老化測試技術 【摘要】 LED 作為一種全新的光源技術,其應用越來越廣泛。怎樣去測試 LED 的性能及使用壽命,一直受到行業(yè)和各使用部門的關注。本文就基于 LED 本身的發(fā)光原理,關鍵特性參數(shù)以及常見的使用環(huán)境去模擬測試出 LED 的壽命, 從而給相關行業(yè)和部門以技術參考。 【關鍵詞】 LED; 輸入功率 ; 壽命 ; 性能測試 ; 光輸出功率 ; 加速老化 ; 積分 球 ; 光譜曲線 一、概述 LED(Light Emitting Diode),又稱發(fā)光二極管, 它是利用固體半導體芯片作 為發(fā)光材料,當兩端加上正向電壓, 半導體中的載流子發(fā)生復合, 放出過剩的光 強而引起光子發(fā)射產(chǎn)生可見光,具有高亮度、長壽命、高效節(jié)能等顯著優(yōu)點?;?于目前的半導體制造技術, LED 輸入功率中只有大約 5%~10%的能量轉(zhuǎn)化為光 能,其他的則轉(zhuǎn)化為熱能。 很多功率型 LED 的驅(qū)動電流可以達
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